14.02.2019

Schichtdicke kostengünstig inline messen

Kapazitives und IR-Messverfahren kombiniert

Die Bestimmung der Schichtverteilung von EVOH in Folien ist heute zur Qualitätssicherung unabdingbar. In den meisten Anwendungsfällen wird die EVOH-Dicke allerdings mittels Mikroskopen im Labor bestimmt. SBI Produktion techn. Anlagen GmbH & Co KG, Hollabrunn/Österreich, liefert eine inlinefähige, berührungslose und nach eigenen Angaben benutzerfreundliche Dickenmessung, mit der sich während des Produktionsprozesses die EVOH-Barriereschicht kontrollieren lässt.

Kapazititves und IR-Messverfahren kombiniert

SBI ist ein Hersteller von Inline-Dickenmessgeräten für die Folien- und Platten-Extrusion. Sein neu entwickeltes und ab sofort erhältliches Messgerät Kapa-IR besitzt zum bewährten kapazitiven Messverfahren (Kapa) zusätzlich ein spezielles Infrarot- Sensorsystem (IR) für die Bestimmung der EVOH-Schichtdicke. Die neue Sensortechnik ist laut Hersteller sehr kostengünstig.

Mit diesem zusätzlichen Messverfahren ist es möglich, bei transparenten und ebenfalls bei opaken Mehrschichtkunststoffen die EVOH-Schicht zu ermitteln. Für die Bestimmung der Schichtdicke wird ein breites IR-Spektrum des Kunststoffs aufgenommen und mittels moderner Analysemethoden die resultierende Absorption der EVOH-Moleküle ausgewertet.

Nicht nur mit Polypropylen einsetzbar

SBI ist nach eigenen Angaben mit diesem Messsystem vorwiegend auf die Messung von PP-EVOH-PP-Folien fokussiert, jedoch sei es auch möglich, mit erweiterten Analysealgorithmen andere EVOH-Polymerverbunde zu messen.

Das Messgerät misst die Gesamtdicke der Mehrschichtfolie, die in Bild 2 oben in Mikrometer dargestellt ist und in der Mitte in Stellbolzen über die Messbreite. Die EVOH-Schichtverteilung wird unten angezeigt.

Das Infrarot-Messsystem generiert eine relative Messung und liefert mithilfe einer Kalibrierung die absolute EVOH-Schichtstärke. (kk)