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Kunststoffe 04/2018

Ein Mikroskop für alle Fälle

Rasterkraftmikroskop auf dem Weg von der Forschung in die Industrie

Ein Mikroskop für alle Fälle

Für detaillierte Bilder von Oberflächenstrukturen eignen sich Rasterkraftmikroskop-Aufnahmen. Bisher wurde die Messtechnik aufgrund aufwendiger und komplexer Methoden hauptsächlich in der universitären Forschung eingesetzt. Nun wird ein Gerät für die industrielle Praxis vorgestellt. Benutzerfreundlichkeit, neue Automatisierungsformen und vereinfachte Messungen machen es möglich.

Dr.-Ing. Holger Großmann

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Literaturhinweis

1 US-PS 4.724.318: Atomic force microscope and method for imaging surfaces with atomic resolution (1985), Bennig, G. K., IBM

2 The Global Market for Scanning Probe Microscopes to 2025, Scanning Probe Microscopes in Future Markets 2017

3 Morita, S.; Giessibl, F. J., Meyer, E.; Wiesendanger, R.: Noncontact Atomic Force Microscopy. Springer International Publishing 2015

4 Lanza, M.: Conductive Atomic Force Microscopy Applications in Nanomaterials. Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA 2017

5 Baro, A. M.; Reifenberger, R.: Atomic Force Microscopy in Liquid. Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA 2012

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